SAXS

小角X射线散射(SAXS)是用于分析1 nm ~ 200 nm尺寸范围内纳米结构的无损测量方法。根据SAXS理论,只要体系内存在电子密度不均匀(微结构,或散射体),就会在入射X光束附近的小角度范围内产生相干散射,通过对小角X射线散射图或散射曲线的计算和分析即可推导出微结构的形状、大小、分布及含量等信息。
主要用于:纳米结构分析(形状、尺寸和内部结构)、分散稳定性、颗粒成核现象、孔隙度(比表面)、结晶度和取向、溶液中的生物大分子、纳米表面结构。