SAXS

小角X射线散射（SAXS）是用于分析1 nm ~ 200 nm尺寸范围内纳米结构的无损测量方法。根据SAXS理论，只要体系内存在电子密度不均匀（微结构，或散射体），就会在入射X光束附近的小角度范围内产生相干散射，通过对小角X射线散射图或散射曲线的计算和分析即可推导出微结构的形状、大小、分布及含量等信息。 主要用于：纳米结构分析（形状、尺寸和内部结构）、分散稳定性、颗粒成核现象、孔隙度（比表面）、结晶度和取向、溶液中的生物大分子、纳米表面结构。